拉曼光譜儀能協助研究半導體材料的分子基本特性,如單一元素 的半導體，如矽(Si)、鍺(Ge) 而多成份組成的半導體，如砷化鎵 (GaAs),氮化鎵(GaN),碳化矽(SiC).半導體晶圓材料分子的特性，本質決定了晶圓製造、IC 封裝這 些製程的良率與品質.而拉曼光譜儀可進行定量分析，以測量半導體 中鍺元素的濃度，也可以測量結晶度，以及材料的應變與應力.進而 可以針對晶圓材料進料品質檢測(Wafer incoming quality inspection)

因應第三代半導體材料大量使用對晶圓入料的品質檢驗及要求將越來越嚴苛，達裕科技面對此需求特意尋找目前已有實績之頂極科技代理其分析儀並共同開發全自動拉曼光譜分析儀機台。