拉曼光谱仪能辅助研究半导体材料的分子基本特性，如单一元素的半导体，如硅（Si），锗（Ge）而多成分组成的半导体，如砷化镓（GaAs），氮化镓（GaN） ，碳化硅（SiC）。半导体晶圆材料分子的特性，本质决定了晶圆制造，IC封装这是些制程的良率与品质。而拉曼光谱仪可进行定量分析，以测量半导体中锗元素的浓度 ，也可以测量结晶度，以及材料的应变与应力。

因应第三代半导体材料大量使用对晶圆入料的质量检验及要求将变得越来越苛刻，达裕科技面对此需求特意寻找现有的实绩之顶极科技代理其分析仪并共同开发自动 拉曼光谱分析仪机台。